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전자회로 부품검사기의 가딩전압 발생법에 관한연구

 

 

                    

  A study on the test method of electric circuit element in

                  communication system

 

         Chang Ok Seo*, Kang Ho Shin*, Kye Kook Kim** Regular Members

 

요    약

 전자회로 부품검사기에서 측정하고자하는 부품을 측정하기위해서는 주변회로를 격리시켜야만 측정하고자하는 부품의 정확한 값을 읽을 수 있다. 측정하고자 하는 부품의 주변회로를 격리시키는 방법을 가딩법(Guarding)이라하며, 가딩 법에는 절점법(Node Guarding)과 접지법(Ground Guarding)이 있다.[5]

본 논문에서는 절점법을 이용하였으며 그중에서 FAG(Fast Auto Guarding)알고리즘을 사용하였다.[6]

FAG알고리즘에 의해 가딩점을 결정할 때에는 각각의 절점에 가딩전압을 발생시켜주어야하며 각각의 가딩전압은 서로 전원이 분리되어 있어야 한다. 그렇지 않으면 가딩전압에 의한 폐회로가 구성이 되어 측정하고자하는 부품의 값을 정확히 계측하기가 어려워진다.

본 논문에서는 이를 해결하기 위해 가딩 전압을 서로 분리되게 설계하여 측정하고자하는 부품에 측정오차를 최대한 줄이는데 목적을 두었다.

Abstract

 

In this paper, is suggested method of discriminate whether inferiority or not. The existing guarding method of incircuit tester was taken the unknown element value and wires were broken down in most of circuit. but the unknown element value of parallel LC circuit is difficult to measure. We infer characteristic of elements from spectrum of parallel connection, therefore, supply spectrum for guarding point and can discriminate inferiority of elements. In this way, node electric potential method be improved guarding method. In view of the result so far achieved, it is conformed that error rate is improved about 7%. 

2000년 한국통신학회

 

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