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In this paper, is suggested method of discriminate whether inferiority or not. The existing guarding method of incircuit tester was taken the unknown element value and wires were broken down in most of circuit. but the unknown element value of parallel LC circuit is difficult to measure. We infer characteristic of elements from spectrum of parallel connection, therefore, supply spectrum for guarding point and can discriminate inferiority of elements. In this way, node electric potential method be improved guarding method. In view of the result so far achieved, it is conformed that error rate is improved about 7%.

 

 

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2003년00월 : [논문] 빌딩 출입 보안 시스템의 정보폭주 방지방법에 관한 연구[논문]
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2000년00월 : [논문] 전자회로 부품검사기의 가딩전압 발생법에 관한연구[논문] file
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1995년12월 : [특허 등록번호10-0090901-0000] 펑션테스터및그의구동방법 file
1992년11월 : [출간] MS-DOS DEVICE DRIVER 작성법 [출간:편저] file
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